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      科學家發(fā)現(xiàn)潛在的新型半導體存在缺陷

      一個研究小組報告說,這是第一次看到原子級缺陷,這些缺陷決定了一種新型而強大的半導體的性能。

      該研究于本月初發(fā)表在《物理評論X》上,顯示了半導體 β 氧化鎵如何控制電的基本方面。

      科學家發(fā)現(xiàn)潛在的新型半導體存在缺陷

      這項研究的主要作者,俄亥俄州立大學電子學中心的研究生研究員賈里德·約翰遜說:“我們的工作是試圖找出這種被稱為β氧化鎵的材料為何在基層上發(fā)揮作用。”顯微鏡和分析。“重要的是要知道這種材料為什么具有它的特性,以及它如何充當半導體,我們希望在原子水平上對其進行研究,以了解我們可以學習到什么。”

      科學家已經(jīng)知道約50年的氧化鎵鎵,但是直到最近幾年,它才成為尋求構(gòu)建更可靠,更高效的高能技術的工程師的有趣選擇。該材料特別適合用于極端條件下的設備,例如國防工業(yè)。該團隊一直在研究β氧化鎵具有提供高密度功率的潛力。

      在這項研究中,由材料科學與工程學助理教授Jinwoo Hwang監(jiān)督的CEMAS團隊在強大的電子顯微鏡下檢查了β氧化鎵,以了解材料原子之間的相互作用方式。他們所看到的證實了大約是十年前理論家首次提出的理論:β氧化鎵在結(jié)構(gòu)上存在缺陷,該團隊將其稱為“點缺陷”,這與以前在其他材料中發(fā)現(xiàn)的任何缺陷都不相同。

      這些缺陷很重要:例如,它們可能是在電子之間傳輸時可能會失去電的地方。通過適當?shù)奶幚?,缺陷還可以提供前所未有的控制材料性能的機會。但是在我們學習如何控制缺陷之前,必須先了解缺陷。

      約翰遜說:“ 實際上,我們可以直接觀察到這些點缺陷,晶格內(nèi)的這些異常現(xiàn)象非常有意義。” “這些點缺陷,晶格結(jié)構(gòu)中的這些奇數(shù)球,降低了結(jié)構(gòu)的能量穩(wěn)定性。”

      約翰遜說,較低的能量穩(wěn)定性意味著該材料可能存在一些缺陷,需要進行處理才能有效地導電,但是它們并不意味著β-鎵氧化物不一定是一種好的半導體。如果科學家能夠控制這些缺陷,那么它們實際上可以很好地導電。

      他說:“這種材料對那些高功率技術具有很好的性能。” “但是重要的是,我們必須從根本上看待這一點-我們幾乎了解了這種材料背后的科學及其工作原理,因為這種缺陷,這些異常情況可能會影響其作為半導體的功能。”

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